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日本日立手持式X射线荧光光谱仪

简要描述:X-MET8000系列手持式X光荧光分析仪提供快速精准的合金等级鉴定及多种材料化学结构分析,适用于废金属回收、材料可靠性鉴定、制造业质量控制、贵金属检测、环境土壤筛查、矿石和矿物分析以及金属镀层厚度测量等领域。该设备具有出色的轻元素分析能力,易于操作,坚固耐用,并具备高级数据管理功能。

  • 产品型号:X-MET8000
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-12-12
  • 访  问  量:161
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详细说明:

手持式X光荧光分析仪(HHXRF)的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料(固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)的准确化学结构分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用简单,可为您提供可靠的结果。

我们提供多种型号的产品,符合您不同应用的所有分析需要和预算。

为什么选择 X-MET 光谱仪


卓Yue性能

X-MET提供Ji好的轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫、氯)分析,检测限度低,且可每天提供准确可靠结果。通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析,从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确,则使用实证校准。


操作简单

大触摸屏和基于图标的用户界面,使用户只需要极少的培训便可开始操作。


符合人体工学

X-MET轻便(仅1.5公斤)、简洁、平衡性好,可供长时间使用,而疲劳度非常低。


坚固耐用而拥有成本低

符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。

通过MIL-STD-810G军Yong耐用标准测试。

其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。


高级数据管理

完Quan灵活:可将多达100,000条结果保存在X-MET上,将报告输出到U盘或个人计算机,或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。


应 用


日本日立手持式X射线荧光光谱仪

比较型号

日本日立手持式X射线荧光光谱仪

X射线管:40kV

滤光片:单一

检测器:大面积 SDD

最高样本温度:400oC

符合 IP54 等级

Thick Kapton®窗口:保护以预防探测器的窗户损坏

校准:基本参数法(FP)

内置摄像头 (可选)

日本日立手持式X射线荧光光谱仪

X射线管:40kV or 50kV

滤光片:6位滤光转换器

检测器:大面积 SDD

最高样本温度:100oC 或通过 HERO™ 耐热窗户400oC(可选)

符合 IP54 等级

可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护

校准:基本参数法 (包括轻元素分析)

内置摄像头(可选)

小光班准直器(可选)

针对所有元素(从镁到铀)进行优先分析的六位滤光片

日本日立手持式X射线荧光光谱仪

X射线管:50kV

滤光片:6位滤光转换器

检测器:大面积 SDD

最高样本温度:100oC 或通过 HERO™ 耐热窗户400oC(可选)

符合 IP54 等级

可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护

校准方法:自动跳转的经验系数法(可进行追溯)

内置摄像头

小光班准直器 (可选) 

针对所有元素,从镁到铀,的优先分析的六位滤光片





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